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塗層厚度的測量

考慮到典型塗層工藝的動態特性以及塗層厚度和均勻性的重要性,塗層操作員不能依賴實驗室在成品薄膜卷上測量塗層厚度。應作為塗層工序的一部分在整個薄膜上測量塗層厚度。塗層厚度測量採用所述擠塑薄膜工藝輻射吸收方法來完成。這種方法的複雜之處在于需要將塗層與薄膜區分開。

一種方法是使用僅被塗層吸收的輻射形式。例如,PVDC 塗層由於氯原子的濃度高而強烈吸收X射線。在其他情況下,使用波長被塗層吸收的程度比基膜更大的紅外輻射。隨著塗層的化學性質越來越接近基膜的化學性質,區分變得越來越困難。在這種情況下,一種解決方案是先測量基膜,然後再測量塗層薄膜,利用差值確定塗層厚度。